日本HIOKI日置C电容测试仪3505
特点：
1. 反复测量精度更高，最适合生产线
2. 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
3. 测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
4. 比测仪的设定值和测定值的同步显示
5. 2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
6. 根据BIN的测定区分容量
7. 比测仪和触发器同步输出功能
8. 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
技术参数：
测量参数
C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)
测量范围
C:0.00000pF ～15.0000mF
D: 0.00001 ～1.99999
Q:0.0 ～19999.9
基本确度
（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B×C× D×E, B～Eは各系数
测量频率
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平
500mV, 1V rms
输出电阻
1Ω(在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs),
20Ω 上述测量范围以外)
显示
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间
代表值: 2.0 ms （ FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量
功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测
机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量
260W ×100H × 298Dmm, 4.8kg
附件
电源线×1, 电源备用保险丝× 1
特点：
1. 反复测量精度更高，最适合生产线
2. 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
3. 测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
4. 比测仪的设定值和测定值的同步显示
5. 2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
6. 根据BIN的测定区分容量
7. 比测仪和触发器同步输出功能
8. 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
技术参数：
测量参数
C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)
测量范围
C:0.00000pF ～15.0000mF
D: 0.00001 ～1.99999
Q:0.0 ～19999.9
基本确度
（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B×C× D×E, B～Eは各系数
测量频率
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平
500mV, 1V rms
输出电阻
1Ω(在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs),
20Ω 上述测量范围以外)
显示
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间
代表值: 2.0 ms （ FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量
功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测
机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量
260W ×100H × 298Dmm, 4.8kg
附件
电源线×1, 电源备用保险丝× 1
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