山高 SANKO 膜厚仪 SWT-9000

2018-09-22 17:08:24

SWT-9000,SANKO测厚仪,SANKO山高，仕　様測定範囲 0～2.00mm 表示分解能 1µm：0～999µm 　切替で 0.1µm：0～400µm 　　　　　　0.5µmµm：400～500µm 0.01mm：1.00～2.00mm

SWT-9000,SANKO测厚仪,SANKO山高，
仕　様
測定範囲
0～2.00mm
表示分解能
1µm：0～999µm 　切替で 0.1µm：0～400µm 　　　　　　0.5µmµm：400～500µm 0.01mm：1.00～2.00mm
測定精度
均一面に対して 0～100µm：±1µmまたは指示値の±２％ 101µm～2.00mm：±２％以内
表示方式
LCDデジタル、表示ホールド
メモリ
検量線×1
プローブ
1点定圧接触式、Vカット付、φ13×47mm
電源
単３乾電池（1.5V）×２　オートパワーオフ
使用温度
0～40℃（結露しないこと）
寸法重量
72(W)×30(H)×156(D)mm、約270g
付属品
標準厚板、テスト用ゼロ板、収納ケース