采用先进的半导体制冷与温控技术,稳定性及重复性高;
16位高速A/D及高速USB接口,每次测量时间<3秒;
国家标准级(CIE CLASS A) V(λ)修正光度探测器。
测量参数:亮度、亮度分布
测量范围:0.001cd/m2-20,000,000 cd/m2
精度等级:一级或标准级
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