艾目微 IMV 绝缘劣化评价试验 HiPー1000n

HiPー1000/n绝缘劣化评价试验IMV艾目微.供应 モデル HiP-1000/ｎ HiP-500/ｎ 印加電圧 ＋1000.0V ＋500.0Ｖ チャンネル数 8ＣＨ～64CH（増設8CH毎） 最大増設可能チャンネル 64CH 絶縁抵抗測定範囲 105Ω～1014Ω 直流電流測定範囲及び測定レンジ 0.1pA～250μA（5測定レンジ）　※固定レンジ・オートレンジ選択可 0.1pA～5ｎA 100pA～500ｎA 1ｎA～5A 10ｎA～50μA 100ｎA～250μA 電流値測定精度 5ｎAレンジ ：±5％±100pA 500ｎAレンジ ：±3％±5ｎA 5μAレンジ ：±2％±10ｎA 50μAレンジ ：±1％±100ｎA 500μAレンジ ：±1％±1μA(最大250μA) 注意）1000Ｖ印加時対レンジフルスケール 5ｎAレンジ ：±5％±100pA 500ｎAレンジ ：±3％±5ｎA 5μAレンジ ：±2％±10ｎA 50μAレンジ ：±1％±100ｎA 500μAレンジ ：±1％±1μA（最大250μA） 注意）500Ｖ印加時対レンジフルスケール バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式（１パワーサプライ→1ＣＨ） バイアス印加電圧設定 （0.1V単位任意） ＋1.0Ｖ～＋999.9Ｖ(グループ［8CH］単位) ＋1.0Ｖ～＋500.0Ｖ(グループ［8CH］単位) バイアス印加電圧レンジ 1000Ｖ 500V バイアス印加アンプ オペアンプ方式 出力ノイズ：最大±5ｍＶ 高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用 高圧オペアンプによる100μｓｅｃオーダーの高速レスポンス バイアス印加電圧精度 ±（ フルスケールの0.5%±1Ｖ） バイアス電圧測定精度 ±（ フルスケールの0.5%±1Ｖ） 最大試験可能時間 9，999時間 測定方法 全チャンネルダイレクト測定（メカニカル・リレーは使用していません） 高速16ビットA/Dコンバータ 測定回路 絶縁抵抗方式 電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル ケーブルオープン検出機能 計測/出力ケーブルのコネクター脱落を検出しアラーム警告 収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・電流値・印加電圧・温度/湿度（要チャンバー通信オプション） パソコン OS：WindowsXP（Windows7対応予定）産業用を推奨 マイグレーション測定モード エンドモード ： マイグレーション発生点で終了
トリガーモード：マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了 タイムモード ： マイグレーション発生閾値、終了閾値で発生回数をカウント（最大50回）
電源AC100Ｖ 50/60Hz 約1500VA/ラック（64CH）パソコンは除く ユニット外形寸法（突起部除く） Ｗ430×Ｄ550×Ｈ635mm 質量 約85kg（64CH）