得乐 TECLOCK 测厚规 SM-1201

得乐 TECLOCK 测厚规 SM-1201

2018-10-18 10:19:54  

适用范围:用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 测量范围:0-10mm最小读数:0.001mm 测量深度:26mm 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物 件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时 的基础测量。 技术参数: 指式方式:指针式 测量范围:0-10mm 最小读数:0.001mm 测量深度:26mm 体积大小:(W*

适用范围:用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
测量范围:0-10mm
最小读数:0.001mm
测量深度:26mm
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物
件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时
的基础测量。

技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.001mm
测量深度:26mm
体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
重量:200g

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