大冢 OTSUKA 带刻度显微镜 183-100X

大冢 OTSUKA 带刻度显微镜 183-100X

2018-10-22 10:20:01  

日本大冢(OTSUKA) 带刻度显微镜 183-100X 一、规格: 倍率:20倍,40倍,60倍,100倍 实视野:7.2毫米,4.3毫米,2.2毫米,1.8毫米 测量范围:6.0毫米,3.4毫米,1.6毫米,1.2毫米 最小刻度:5/100毫米,2/100毫米,2/100毫米1/100毫米

日本大冢(OTSUKA) 带刻度显微镜 183-100X

一、规格:

倍率:20倍,40倍,60倍,100倍

实视野:7.2毫米,4.3毫米,2.2毫米,1.8毫米

测量范围:6.0毫米,3.4毫米,1.6毫米,1.2毫米

最小刻度:5/100毫米,2/100毫米,2/100毫米1/100毫米
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