一、日本KURABO红外线测厚仪RX-200特点：
1、节省空间(在线)
因为是小型传感器头，故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。
2、瞬间测量
无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。
3、广泛的适应性
通过由最大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。
4、出众的测量精度
通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。
5、拥有值得信赖的长期稳定性
根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。
二、日本KURABO红外线测厚仪RX-200用途：
LCD用光学薄膜测厚
聚合电池的隔离板测厚
彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
铝箔上的乙烯涂层测厚
防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
复合膜的粘合剂涂层测厚
收缩标签的脱胶检查等
钢板上的有机附着量测量
三、日本KURABO红外线测厚仪RX-200规格参数：
项目
规格
测量方法
红外线反射吸收式
分光方式
旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
测量距离
25mm(从本体部下面)
测量面积
5×8mm(椭圆)
尺寸、重量、电源
传感器头
230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
数据处理部
275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
中继单元部
250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
外部输出
从模拟0～10v 到4～20mA进行选择(出厂时设定)
环境温度
0～40℃(没有结露)
电源
AC100V±10％ 50/60Hz
1、节省空间(在线)
因为是小型传感器头，故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。
2、瞬间测量
无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。
3、广泛的适应性
通过由最大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。
4、出众的测量精度
通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。
5、拥有值得信赖的长期稳定性
根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。
二、日本KURABO红外线测厚仪RX-200用途：
LCD用光学薄膜测厚
聚合电池的隔离板测厚
彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
铝箔上的乙烯涂层测厚
防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
复合膜的粘合剂涂层测厚
收缩标签的脱胶检查等
钢板上的有机附着量测量
三、日本KURABO红外线测厚仪RX-200规格参数：
项目
规格
测量方法
红外线反射吸收式
分光方式
旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
测量距离
25mm(从本体部下面)
测量面积
5×8mm(椭圆)
尺寸、重量、电源
传感器头
230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
数据处理部
275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
中继单元部
250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
外部输出
从模拟0～10v 到4～20mA进行选择(出厂时设定)
环境温度
0～40℃(没有结露)
电源
AC100V±10％ 50/60Hz
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