台湾固纬 GWINSTEK 测试仪器 GUT-6000A

2018-10-02 20:10:18

特点． Loop 测试．自动搜寻 IC 编号功能．开机自我侦测诊断功能．过载保护功能．可量测之 IC 种类超过 1800 种． 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ． 4000 及 4500 系列 CMOS．最大可测 Pin 数 : 28 Pin 规格测试范围 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS

特点． Loop 测试
．自动搜寻 IC 编号功能
．开机自我侦测诊断功能
．过载保护功能
．可量测之 IC 种类超过 1800 种
． 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
． 4000 及 4500 系列 CMOS
．最大可测 Pin 数 : 28 Pin
规格
测试范围 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 55 及 75 系列 TTL 量测种类约 1800 种测试电压 5V DC 测试时间高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC 使用电源交流 110V/220V +10%, 50/60Hz 附件电源线 x 1, 操作手册 x 1 尺寸及重量 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤

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台湾固纬 GWINSTEK 测试仪器 GUT-6000A

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