美国光谱 SPECTROLINE 紫外线强度测量仪 DRC-100X

美国光谱 SPECTROLINE 紫外线强度测量仪 DRC-100X

2018-10-22 17:56:37  

紫外线强度测量仪 用于测量紫外线光源强度之分析,多种感应器选择(另购) 型号 测量范围 DRC-100X 0-19,990u W/ c㎡ DRC-100H 0-199.90u W/ c㎡(0-19,990u W/ c㎡) 感应器种类如下 DIX-365A 适用于短波波长范围230-280nm DIX-254A 适用于长波波长范围320-400nm

紫外线强度测量仪
用于测量紫外线光源强度之分析,多种感应器选择(另购)
型号
测量范围
DRC-100X
0-19,990u W/ c㎡
DRC-100H
0-199.90u W/ c㎡(0-19,990u W/ c㎡)
感应器种类如下
DIX-365A
适用于短波波长范围230-280nm
DIX-254A
适用于长波波长范围320-400nm

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