日本东京电色（Tokyo Denshoku） 色差计（糙面色差计） TC-1800MK-Ⅱ
产品简介：
用 途：应用于不平整物体,如粒状物丝状物及纹路平面物,不会有方向性问题,再现性佳。
特 点：采用分光光栅，双光束交照方式，扫描性能极佳。利用反馈回路，稳定性优越。采用单触式操 作，十分简便；12台的机器间的台间差平均在ΔE0.25以内。
测量方法：0°－d法，或d－0°法
测量波长：380～780nm/5nm
测量项目：2°、10°视野，A,C,D65,F6,F8,F10各标准光源
X,Y,Z三刺激值
CIE色度坐标 x＝X/X＋Y＋Z y＝Y/X＋Y＋Z
R.Hunter表色系 L、a、b、△L、△a、△b、△E
CIELAB表色系 L*、a*、b*、△L*、△a*、△b*、△E*
CIELUV表色系 L*、u*、v*、△L*、△u*、△v*、△E*
黄色度 Y1、△Y1 白色度 W、DENSITY
平均值
分光反射率、透过率、分光曲线（间隔0.5 nm）
测量面积：直径5、10、25mm
产品简介：
用 途：应用于不平整物体,如粒状物丝状物及纹路平面物,不会有方向性问题,再现性佳。
特 点：采用分光光栅，双光束交照方式，扫描性能极佳。利用反馈回路，稳定性优越。采用单触式操 作，十分简便；12台的机器间的台间差平均在ΔE0.25以内。
测量方法：0°－d法，或d－0°法
测量波长：380～780nm/5nm
测量项目：2°、10°视野，A,C,D65,F6,F8,F10各标准光源
X,Y,Z三刺激值
CIE色度坐标 x＝X/X＋Y＋Z y＝Y/X＋Y＋Z
R.Hunter表色系 L、a、b、△L、△a、△b、△E
CIELAB表色系 L*、a*、b*、△L*、△a*、△b*、△E*
CIELUV表色系 L*、u*、v*、△L*、△u*、△v*、△E*
黄色度 Y1、△Y1 白色度 W、DENSITY
平均值
分光反射率、透过率、分光曲线（间隔0.5 nm）
测量面积：直径5、10、25mm
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